表面鍍層測厚儀有時(shí)開(kāi)機出現干擾是什么原因?

測量過(guò)程中，為什么表面鍍層測厚儀有時(shí)候測量數據會(huì )出現明顯偏差?
測量過(guò)程當中由于探頭放置方式不正確或者外界干擾因素的影響可能會(huì )造成測量數據明顯偏大。這時(shí)可以按住CAL鍵把該數據清除以免進(jìn)入數據統計中去。
表面鍍層測厚儀如何系統校準?
校準的方法、種類(lèi)，這是新用戶(hù)經(jīng)常會(huì )遇到的問(wèn)題。系統校準、零點(diǎn)校準還有兩點(diǎn)校準其實(shí)都已經(jīng)在說(shuō)明書(shū)上寫(xiě)到了，用戶(hù)只需仔細閱讀就可以了。需要注意的是：在校準鐵基時(shí)是多測量幾次以防止錯誤操作;系統校準的樣片要按照從小到大的順序進(jìn)行。如果個(gè)別標準片丟失可以找與其數值相近的樣片代替。
表面鍍層測厚儀有時(shí)開(kāi)機出現干擾是什么原因?
開(kāi)機后儀器屏幕出現測量狀態(tài)箭頭不能再次進(jìn)行測量，就說(shuō)明儀器受到了干擾。主要有兩個(gè)原因:
(1)開(kāi)機時(shí)探頭離鐵基太近，因為鐵基磁場(chǎng)的影響而受到了干擾。
(2)沒(méi)插好探頭或者探頭線(xiàn)有損傷。