正式揭穿涂層鍍層測厚儀測量的準確性簡(jiǎn)單易懂，不曉得就可遺憾了

1.基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變動(dòng)的影響（在實(shí)際運用中，低碳鋼磁性的變動(dòng)可以認為是輕微的），為了防止熱處理和冷加工因素的影響，應運用與試件基體金屬具備相似性質(zhì)的標準片對涂層鍍層測厚儀實(shí)行校準；亦可用待涂覆試件實(shí)行校準。
2.基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材質(zhì)成分及熱處理方式相關(guān)。運用與試件基體金屬具備相同性質(zhì)的標準片對儀器實(shí)行校準。
3.基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
4.邊緣效應
涂層鍍層測厚儀對試件外表面形狀的陡變敏感。因而在接近試件邊緣或內轉角處實(shí)行測量是不牢靠的。
5.曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少顯著(zhù)地增大。因而，在彎曲試件的外表面上測量是不靠譜的。
6.試件的變形
測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形，因而在這些試件上不能測出正確的數據。
7.表面糙粗糙度
基體金屬和覆蓋層的外表面毛糙程度對測量有影響。毛糙程度增大，影響增大。毛糙外表面會(huì )致使系統誤差和偶爾誤差，每次測量時(shí)，在不同地方上應添加測量的次數，以克制這種偶爾誤差。假如基體金屬毛糙，還必需在未涂覆的毛糙度相似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校正涂層鍍層測厚儀的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒(méi)有侵蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校正涂層測厚儀的零點(diǎn)。
8.磁場(chǎng)
四周各種電氣設施所發(fā)生的強磁場(chǎng)，會(huì )重大地預擾磁性法測厚工作。
9.附著(zhù)物質(zhì)
涂層鍍層測厚儀對那些阻礙測頭與覆蓋層外表面嚴密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感，因而，必需消除附著(zhù)物質(zhì)，以保障儀器測頭和被測試件外表面直接接觸。
10.測頭壓力和側頭取向
測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因而，要維持壓力恒定。測頭的安放方式對測量有影響。涂層鍍層測厚儀在測量中，該當使測頭與試樣外表面維持垂直。