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了解透切這些秘訣,鐵基涂層測厚儀的測量精度即可有保證了

更新時(shí)間:2020-02-18      點(diǎn)擊次數:1157

影響鐵基涂層測厚儀測量要素有哪些

1,基體金屬磁性變化。為了防止熱處理、冷加工等因素的影響,應運用與鍍件金屬具備相異性質(zhì)的鐵基片上 對磁性涂層測厚儀實(shí)行校對。
2,測量基體金屬厚度,基體金屬有一定臨界厚度,超出厚度測量就不受基體厚度的影響。
3,邊緣效應,在接近試片邊緣或內轉角處實(shí)行測量是不的,校正試片盡量在試片中心以節減誤差。
3,測量件曲率,試件的曲率對測量有影響,這種影響是隨著(zhù)曲率半徑減小顯著(zhù)增大。因而不應在試件超出允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
5,被測物體外表面粗糙度,基體金屬和外表面粗糙度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙外表面會(huì )致使系統誤差和偶爾誤差,每次測量時(shí),在不同地方上應添加測量的次數,以克制這種偶爾誤差。假如基體金屬粗糙,還必需在未涂覆的粗糙度相似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校正磁性涂層測厚儀的零點(diǎn);或用對基體金屬沒(méi)有侵蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校正磁性涂層測厚儀的零點(diǎn)。
6,磁場(chǎng),被測物體四周磁場(chǎng)會(huì )預擾磁性測量,影響鐵基涂層測厚儀精度。
7,附著(zhù)物質(zhì),鐵基涂層測厚儀對那些阻礙探頭與覆蓋層外表面嚴密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感。因而必需消除附著(zhù)物質(zhì),以保障探頭與覆蓋層外表面直接接觸。
8,測量進(jìn)程中探頭的置放,探頭的放的方式對測量有影響,在測量中使探頭與試樣外表面維持垂直。這是鐵基涂層測厚儀(其余測厚儀,如超聲波測厚儀也是這樣)測量中要注意的問(wèn)題。
9,試片的變形及試片本身的誤差,探頭使軟覆蓋層試件變形,因而在這些試件上會(huì )呈現一定的誤差。
10,測量次數,關(guān)于數據要求經(jīng)度較高的測量要進(jìn)行幾次測量求平均值,精度要求更高的可以多臺儀器測量求平均值。
11,還有一些其它不確定要素。

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