確保涂鍍層測厚儀準確性必須要遵循這4個(gè)方面

1、薄涂層的測量準que度和厚度沒(méi)有任何關(guān)系，是一個(gè)常數，厚涂層的測量準que度是一個(gè)近似恒定的分數和厚度的乘積。

2、基體磁性的變化會(huì )影響測量的數據，所以涂鍍層測厚儀校準時(shí)要采用材質(zhì)和試樣基體一樣的校準；

采用待鍍產(chǎn)品做基體實(shí)行儀器校準，以防止不一樣的個(gè)體或局部熱處理和冷加工影響測量數據。

3、涂鍍層測厚儀在靠近試樣邊緣或內轉角處的測量數據往往是不牢靠的，這種效應或許從不持續處向前延續約20mm。
4、涂鍍層測厚儀測量曲面時(shí)，數據隨曲率半徑的減小而開(kāi)始顯著(zhù)。