探討導致漆膜測厚儀不準的原因分析及處得方法

影響漆膜厚度儀測量數據不準的原因

每一種漆膜厚度儀器都有一個(gè)臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響;對試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的;試件的曲率對測量有影響，隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測量也是不可靠的;

基體金屬和涂層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大，粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同的位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙，還必須在未涂的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)，或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解去除涂層后，再校對儀器的零點(diǎn);

周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重干擾磁性測厚工作;

探頭會(huì )使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測不出可靠的數據;

妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)，必須清除，在測量中，要保持壓力恒定，探頭與試件表面保持垂直，才能達到jing確的測量。

磁性法測量厚度受基體金屬性變化的影響(在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準;

基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成份及熱處理方法有關(guān),應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。