覆層測厚儀和無(wú)損檢測儀的原理

磁性測量原理
一、磁吸力原理測厚儀
    利用*磁鐵測頭與導磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系可測量覆層的厚度，這個(gè)距離就是覆層的厚度，所以只要覆層與基材的導磁率之差足夠大，就可以進(jìn)行測量。鑒于大多數工業(yè)品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成形，所以磁性測厚儀應用zui廣。測量?jì)x基本結構是磁鋼，拉簧，標尺及自停機構。當磁鋼與被測物吸合后，有一個(gè)彈簧在其后逐漸拉長(cháng)，拉力逐漸增大，當拉力鋼大于吸力磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。一般來(lái)講，依不同的型號又不同的量程與適應場(chǎng)合。在一個(gè)約350º角度內可用刻度表示0～100µm；0～1000µm；0～5mm等的覆層厚度，精度可達5％以上，能滿(mǎn)足工業(yè)應用的一般要求。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單、強固耐用、不用電源和測量前的校準，價(jià)格也較低，很適合車(chē)間作現場(chǎng)質(zhì)量控制。

二、磁感應原理測厚儀
     磁感應原理是利用測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來(lái)測定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。由于是電子儀器，校準容易，可以實(shí)多種功能，擴大量程，提高精度，由于測試條件可降低許多，故比磁吸力式應用領(lǐng)域更廣。
     當軟鐵芯上繞著(zhù)線(xiàn)圈的測頭放在被測物上后，儀器自動(dòng)輸出測試電流，磁通的大小影響到感應電動(dòng)勢的大小，儀器將該信號放大后來(lái)指示覆層厚度。早期的產(chǎn)品用表頭指示，精度和重復性都不好，后來(lái)發(fā)展了數字顯示式，電路設計也日趨完善。近年來(lái)引入微處理機技術(shù)及電子開(kāi)關(guān)，穩頻等技術(shù)，多種獲的產(chǎn)品相繼問(wèn)世，精度有了很大的提高，達到1%,分辨率達到0.1µm，磁感應測厚儀的測頭多采用軟鋼做導磁鐵芯，線(xiàn)圈電流的頻率不高，以降低渦流效應的影響，測頭具有溫度補償功能。由于儀器已智能化，可以辨識不同的測頭，配合不同的軟件及自動(dòng)改變測頭電流和頻率。一臺儀器能配合多種測頭，也可以用同一臺儀器?？梢哉f(shuō)，適用于工業(yè)生產(chǎn)及科學(xué)研究的儀器已達到了了非常實(shí)用化的階段。
    利用電磁原理研制的測厚儀，原則上適用所有非導磁覆層測量， 一般要求基本的磁導率達500以上。覆層材料如也是磁性的，則要求與基材的磁導率有足夠大的差距（如鋼上鍍鎳層）。磁性原理測厚儀可以應用在測量鋼鐵表面的油漆涂層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，化工石油行業(yè)的各種防腐涂層。對于感光膠片、電容器紙、塑料、聚酯等薄膜生產(chǎn)工業(yè)，利用測量平臺或輥（鋼鐵制造）也可用來(lái)實(shí)現大面積上任一點(diǎn)的測量。

三、電渦流原理測厚儀
    電渦流測厚法主要應用于金屬基體上各種非金屬涂鍍層的測量。利用高頻交流電在作為探頭的線(xiàn)圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，將探頭靠近導電的金屬體時(shí)，就在金屬材料中形成渦流，且隨與金屬體的距離減小而增大，該渦流會(huì )影響探頭線(xiàn)圈的磁通，故此反饋作用量是表示探頭與基體金屬之間間距大小的一個(gè)量值，因為該測頭用在非鐵磁金屬基體上測量覆層厚度，所以通常我們稱(chēng)該測頭為非磁性測頭。非磁性測頭一般采用高頻高導磁材料做線(xiàn)圈鐵芯，常用鉑鎳合金及其它新材料制作。與磁性測量原理比較，他們的電原理基本一樣，主要區別是測頭不同，測試電流的頻率大小不同，信號大小、標度關(guān)系不同。在的測厚儀中，通過(guò)不斷改進(jìn)測頭結構，在配合微電腦技術(shù)，由自動(dòng)識別不同測頭來(lái)調用不同的控制程序，分別輸出不同的測試電流和改變標度變換軟件，終于使兩種不同類(lèi)型的的測頭接與同一臺測厚儀上，降低了用戶(hù)負擔，基于同一思想，可配接達10種側頭的測厚儀極大地擴展了測厚范圍（達10萬(wàn)倍以上），可測包括導磁材料表面上的非導磁覆層，導電材料上的非導電覆層及不導電材料上的導電層，基本上滿(mǎn)足了工業(yè)生產(chǎn)多數行業(yè)的需要。
    采用電渦流原理的測厚儀，原則上所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其他鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導電層。覆層材料也可以有一定的導電性，通過(guò)校準同樣也可以測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3～5倍以上（如銅上鍍鉻）。
    校準的原則是沒(méi)有覆層的校準試樣與被測物的基材應有：成分相同，厚度相同（主要在于厚度小于儀器規定的zui小值約0.5mm以下時(shí)），有相同的曲率半徑，如被測面積小于儀器技術(shù)參數的要求（直徑約20mm以下），還應有相同的被測面積。如覆層含有導電成份，校準試樣的覆層也應與被測物的覆層有相同的導電性能。校準試樣的覆層經(jīng)過(guò)其它（包括有損測試方法）測試后標定厚度或用已標定的校準薄片做覆層，就可以在其上面按說(shuō)明書(shū)的方法校準測厚儀。校準后就可以在被測產(chǎn)品上進(jìn)行快速無(wú)損檢測。校準薄片一般用三醋酸酯薄膜或經(jīng)苯酚樹(shù)脂浸漬過(guò)的硬紙。
    微電腦測厚一般有多個(gè)校準值存貯。隨著(zhù)被測產(chǎn)品的不同位置、材料變化、更換測頭等均可分別校準并存貯。實(shí)際使用時(shí)直接調用各校準值，就無(wú)須重新調校了。這即是所謂“速換基準”。大大提高了檢測效率。
    測試數據在智能化儀器里一般可以存貯、打印、計算統計數據供分析，還有可以打印直方圖的功能使覆層厚度分布一目了然。如設置了上下極限還可以使統計數據更加準確，測量時(shí)所有超限的點(diǎn)都有聲響提醒注意并不取入做統計計算用。
影響測量值的因素與解決方法
    使用測厚儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來(lái)測量覆層厚度的，所以，被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性，下面就這方面的問(wèn)題作一下介紹。
1. 邊界間距
如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠將導致測量誤差。如必須測量該點(diǎn)的覆層厚度，只有預先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準，才能測量。（注：的產(chǎn)品有透過(guò)覆層校準的*功能可達3～10%的精度）
2. 基體表面曲率
在一個(gè)平直的對比試樣上校準好一個(gè)初始值，然后在測量覆層厚度后減去這個(gè)初始值?；騾⒄障聴l。
3. 基體金屬zui小厚度
基體金屬必須有一個(gè)給定的zui小厚度，使探頭的電磁場(chǎng)能*包容在基體金屬中，zui小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān)，在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無(wú)法加基材則可以通過(guò)與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對比來(lái)確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點(diǎn)而對測量值作相應的修正或參考第2條修正。而那些可以標定的儀器通過(guò)調整旋鈕或按鍵，便可以得到準確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的測厚儀，如前所述。
4. 表面粗糙度和表面清潔度
在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行。顯而易見(jiàn)，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。為獲得可靠的數據，基體的平均粗糙度Ra應小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質(zhì)，則應予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點(diǎn)”。
5. 探頭測量板的作用力
探頭測量時(shí)的作用力應是恒定的。并應盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測量值下降?；町a(chǎn)生大的波動(dòng)，必要時(shí)，可在兩者之間墊一層硬的，不導電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過(guò)減去薄膜厚度就能適當地得到剩磁。
6. 外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁
應該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測量。殘存的剩磁，根據檢測器的性能可能導致或多或少的測量誤差，但是如結構鋼，深沖成形鋼板等一般不會(huì )出現上述現象。
7. 覆層材料中的鐵磁成份和導電成份
覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時(shí)，會(huì )對測量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對用作校準的對比試樣覆層應具有與被測物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測試后獲得對比標準試樣。也可向有關(guān)計量測試部門(mén)購得