涂鍍層測厚儀的分類(lèi)與工作原理

涂鍍層測厚儀的分類(lèi)與工作原理

涂鍍層測厚儀根據測量原理一般有以下五種類(lèi)型：

1.磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼、鐵、銀和鎳。此種方法測量精度高。

2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。

3.超聲波測厚法：目前國內還沒(méi)有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個(gè)別廠(chǎng)家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無(wú)法測量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測量精度也不高.  

4.電解測厚法:此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測,需要破壞涂鍍層。一般精度也不高，測量起來(lái)較其他幾種麻煩。  

5.放射測厚法:此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬(wàn)RMB以上)，適用于一些特殊場(chǎng)合，國內目前使用zui為普遍的是第1和2兩種方法。  

常規涂層測厚儀的原理：

對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國家和標準中稱(chēng)為覆層（coating）。   覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的*手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。   覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱(chēng)重法，X射線(xiàn)熒光法，β射線(xiàn)反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。 

X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線(xiàn)防護規范。X射線(xiàn)法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。   隨著(zhù)技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。 

采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進(jìn)行。