表面粗糙度測量方法分類(lèi)介紹

表面粗糙度測量比較法
將表面粗糙度比較樣塊，根據視覺(jué)和觸覺(jué)與被測表面比較，判斷被測表面粗糙度相當于那一數值，或測量其反射光強變化來(lái)評定表面粗糙度（見(jiàn)激光測長(cháng)技術(shù)）。樣塊是一套具有平面或圓柱表面的金屬塊，表面經(jīng)磨、車(chē)、鏜、銑、刨等切削加工，電鑄或其他鑄造工藝等加工而具有不同的表面粗糙度。有時(shí)可直接從工件中選出樣品經(jīng)過(guò)測量并評定合格后作為樣塊。利用樣塊根據視覺(jué)和觸覺(jué)評定表面粗糙度的方法雖然簡(jiǎn)便，但會(huì )受到主觀(guān)因素影響，常不能得出正確的表面粗糙度數值。
表面粗糙度測量觸針?lè )?br />利用針尖曲率半徑為 2微米左右的金剛石觸針沿被測表面緩慢滑行，金剛石觸針的上下位移量由電學(xué)式長(cháng)度傳感器轉換為電信號，經(jīng)放大、濾波、計算后由顯示儀表指示出表面粗糙度數值，也可用記錄器記錄被測截面輪廓曲線(xiàn)。一般將僅能顯示表面粗糙度數值的測量工具稱(chēng)為表面粗糙度測量?jì)x，同時(shí)能記錄表面輪廓曲線(xiàn)的稱(chēng)為表面粗糙度輪廓儀（簡(jiǎn)稱(chēng)輪廓儀），這兩種測量工具都有電子計算電路或電子計算機，它能自動(dòng)計算出輪廓算術(shù)平均偏差Rα，微觀(guān)不平度十點(diǎn)高度RZ，輪廓zui大高度Ry和其他多種評定參數，測量效率高，適用于測量Rα為0.025——6.3微米的表面粗糙度。
表面粗糙度測量光切法
光線(xiàn)通過(guò)狹縫后形成的光帶投射到被測表面上，以它與被測表面的交線(xiàn)所形成的輪廓曲線(xiàn)來(lái)測量表面粗糙度。由光源射出的光經(jīng)聚光鏡、狹縫、物鏡1后，以45°的傾斜角將狹縫投影到被測表面，形成被測表面的截面輪廓圖形，然后通過(guò)物鏡 2將此圖形放大后投射到分劃板上。利用測微目鏡和讀數鼓輪，先讀出h值，計算后得到H 值。應用此法的表面粗糙度測量工具稱(chēng)為光切顯微鏡。它適用于測量RZ和Ry為0.8——100微米的表面粗糙度，需要人工取點(diǎn)，測量效率低。
表面粗糙度測量干涉法
利用光波干涉原理 （見(jiàn)平晶、激光測長(cháng)技術(shù)）將被測表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來(lái)，并利用放大倍數高 （可達500倍）的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀(guān)部分放大后進(jìn)行測量，以得出被測表面粗糙度。應用此法的表面粗糙度測量工具稱(chēng)為干涉顯微鏡。這種方法適用于測量Rz和Ry為 0.025——0.8微米的表面粗糙度。